XRF分析仪测试常见知识

XRF测试常识

a) X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。两个关于XR光谱仪的实际例子是波长散射型(WDXRF)荧光光谱和能量散射型(EDXRF)荧光光谱仪。

b) X-射线激发源：通常是X-射线管或放射性同位素。

c) X-射线探测器：检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。

X-射线荧光光谱仪(XRF)：由X-射线激发源、样品测试台、X-射线检测器、数据处理器和控制系统。

XRF 所用的射线对人体有害，所以所有产生射线的设备应该按照严格的安全程序来操作，另外要做好对试验人员的健康防护。光谱仪准备

按照仪器的工作指南给仪器通电，加热设备，并按照厂家的指导说明使仪器稳定。

确保测试稳定，按厂家的指导使检测器稳定。

校准

e/ja) 根据仪器用户手册的说明，按照7节中的描述去选择参比样品作为校准样品。样品中元素的

T9E5?7M(u%w C.}六西格玛品质论坛浓度必须各不相同。如果校准覆盖了很多元素，浓度范围跨度很大，就需要很多校准样品。

校准样品的数量因以下原因减少：

—用基本参数法校准(元素少于标准物)

—用基本参数法校准(用一个相似元素的标准物).

—用基本参数法分析加上经验来校准

分析方法校准考虑到光谱的干扰、基体效应和其它效应，这些都会影响到光谱中荧光散射强度的确定。这些影响的列表可以在这章的附件中找到。

为了保证对每个测量元素合格的分析性能，必需通过选择合适的激发参数使仪器处于最佳的测量条件。这些条件是仪器特有的。具有代表性地，这些信息可以分析者的指导手册中找作为一般的指导，建议方法的使用者知道相互元素光谱的干扰和样品间的基体的变化会充分影响到每个分析物结果的准确度、精密度和最小检测限。例如，在纯的聚乙烯中Cd的检

测限可以达到15mg/Kg，但是当10%溴化合物和/或者2%锑存在的时候，检测限就达不到了。进一步的信息检测器性能检查设备是否满足所要求的性能标准，它都需要通过测量认证的参考材料或相关的参考样品来-质量-SPC确定。

样品中含有的元素的浓度必须不能大于测试元素筛选限值的3-5倍(见表3)。由参考样品得到的结果必须在样品测试误差允许的范围内。当设备用来分析未知材料时，厂商应该提供

一个标准的操作程序(SOP)及一个适当的参考样品。其推荐方法应可确保操作者能得到高质量的分析结果。

测试样品的摆放

a) 如果待测样可以放在台式X射线荧光光谱仪内部的样品室内，且待测样处在适当的测量位置，就可以进行相应的测试了。如果待测样不适于放入样品室内，它必须被切成合适的尺寸以便测量。为了使测试结果有效，必须满足仪器关于样品厚度与质量的最低要求，因为非常小或薄的样品可能不满足这个条件。在该种情况下，需将这类小样品(例如螺丝钉)放在一个样品杯里，然后进行分析。同样地，类似的薄样品应该堆在一起以便能够达到最小样品厚度限值从而可以进行有效分析。一个通用的原则是所有样品必须完全覆盖光谱仪的测量窗口，对于聚合物和轻合金例如Al, Mg 和Ti，至少应该5mm厚，对于液体最小厚度是15mm，而对于其它合金厚度大约为1mm。然而由于设备的个体差异，所需要的样品尺寸也不同，分光计的操作者需参考设备手册或按照厂家所要求的最小的尺寸/质量/厚度来制备样品。

b) 如果在一个便携式的XRF光谱仪上进行测试，必须要注意的是光谱仪的测量窗口应该与测试样品相对，并直接接触。小或很薄的样品需按照上述a) 所说的方法进行操作。然后利用一个附件(如果可以的话)进行分析，允许操作者在样品杯里测量样品。关于最小样品的尺寸/质量/厚度的规定也适用于便携式分析。

如果样品是液态、粉末或球形，或者只是一很小的样品，它需要在带有不可重复使用薄膜的样品杯里进行测量。操作这个窗口薄膜时，小心不要接触它的表面以免对其造成污染。

筛选测试

a) 按规定的时间测试。

显示和记录分析结果。结果分析各种类型的XRF 光度计单独使用，分析方法允许使用者把样品归纳为以下三类的其中一类：

“合格”- 如果对所有的元素定量分析的结果全部小于表2 所列的低限值，样品经过测试X为合格。

“不合格”- 如全部高于表2 所列的高限值，样品经过测试为不合格。

c) “未决定”- 如果对Hg、Pb 或者Cd 其中任何一种的元素定量分析的结果处于中间区域Q或者元素Br 和Cr 的结果高于表2 所列的高限值，分析结果为未做决定。还必须要进行进一步的研究。这个检测是“未决定”。

元素聚合物材料金属材料电子元件

Cd P≤（70－3σ）

P≤（700－3σ）

≤FP≤（500－3σ）

<（1300＋3σ）≤F35U F+JrP≤（500－3σ）

<（500＋3σ）≤FBr P≤（300－3σ）

≤700－3σ）

普通法定的对受关注物质的限值已经受到了相关的评估，但对此方法“执行的水平”已经为筛选过程定了容许30％（50％对于电子元件）安全极限值的偏差，这样合格（P）或者不合格（F）的决定将会分别设定为少于和多于30％（50 对于电子元件）的法定zW-I1x$x限值。极限值得到了很多做实验的专家和工厂的实践人员的赞同。

“X”符号表示这样一个区域，在这个区域中的数值还需要进一步的研究。术语“3σ”表明分析仪器的重现性，这里必须通过至少7 次重复对没有受控物质的典型样品（空白样品）的测量而得到的标准偏差。

注意：相对于Hg、Pb 和Cr 的低限值，Br 的低限值是通过PBB/PBDE中Br的化学计量算出来的。方法评估对于方法的准确度和偏差将通过资格循环实验来评估。XRF谱图的推荐分析谱线。单个分析物的特征X-射线分析物一级射线二级射线，镉,Cd Kα铅, Pb LαLβ汞, Hg Lα铬, Cr Kα

溴, Br Kα Kβ典型的元素：

Fe 合金: Fe, Cr, Ni, Nb, Mo,

Al合金: Al, Mg, Si, Cu, Zn,

Cu合金: Cu, Zn, Sn, Pb, Mn, Ni, Co,

焊料合金: Pb, Cu, Zn, Sn, Sb, Bi, Ag, ..

贵金属合金: Rh, Pd, Ag, Ir, Pt, Au, Cu, Zn, …

电子元器件和印刷电路板：原则上包括聚合物和金属中发生的所有效应。

d) 另外，样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其它元素的干扰，典型的干扰如下：—镉：可能的干扰来自溴，铅，锡，锑—铅：可能的干扰来自溴—汞：可能的干扰来自溴，铅，以及样品中高浓度的钙和铁—铬：可能的干扰来自氯—溴：可能的干扰来自铁及铅。

RoHS测试流程及XRF使用手册

测定事例１（纯塑料） 塑料部品 测定样品 测定样品后出现的波形 [测定顺序]用XRF 测定样品：检测出Pb ，再使用ICP 进行分析 ［定量结果］ [结论]：均质材料测试结果较准确 测定事例２（塑料＋金属复合品１） 乙稀 测定样品 测定样品整体后出现的波形 只测定被包材料后出现的波形 [测定顺序]： 只测定被包材料：以下是Pb 的定量结果 ［定量结果］ [结论]对于复合样品的测量，要得到准确的测量值，有必要将样品按材质拆分 后分析

测定事例３（塑料＋金属复合品２） 金属插头 测定试料测定样品整体后出现的波形只测定被包材料后出现的 波形 [测定顺序] 测定样品整体：检测出Pb只测定被包材料：检测出Pb使用ICP进行分析 [定量结果] 测定事例4 金属部品(无表面处理) 金属部品（无表面处理）中含有Pb的事例 测定样品样品就那样测定后的波峰 [测定顺序] 样品就那样测定：检测出Pb ICP分析 [定量结果]

测定事例5 金属部品(无表面处理) 金属部品（无表面处理）中含有Cd 的事例 测定样品 样品的波形 [测定顺序] 样品就那样测定：检测出 Cd 使用ICP 分析 [定量结果] 测定事例6（被镀金属部品１） 金属部品（镀品）：铁（Fe ）–素材中含有Pb 的事例 测定样品 样品就那样测定后的 波形 测定样品（除去镀 层） 除去镀层测定后的 波形 [测定顺序] 样品就那样测定：检测出Pb 除去镀层的样品：检测出Pb 使用ICP 分析 [定量结果] [结论]：镀品有必要将镀除去后再测定

该样品的铅存在于钢基材，镀层不含有铅，而Rohs对钢的含铅最大允许值为3500ppm，故该样品符合Rohs要求

测试报告样本

测试报告样本 测试报告就是把测试的过程和结果写成文档，对发现的问题和缺陷实行分析，为纠正软件的存有的质量问题提供据，同时为软件验收和交付打下基础。以下是###整理的测试报告样本，欢迎阅读！ 测试报告样本（一） 近年来，随着我国软件产业的蓬勃发展以及对软件质量的重视，软件测试也越来越被软件企业所重视，软件测试成为了一个前景光明的新兴产业。 由调查机构发布的《2014年软件测试从业人员调查报告》显示，软件测试行业表现出以下几大特征： 一、软件测试行业人才缺口大 数据显示，被调查测试人员所属公司中，互联网行业及金融行业分别占42.81%和18.15%，综合占比超过六成，这也印证了经济结构调整的成果，当前互联网行业和金融行业受到了投资者和个人的青睐，企业需求急剧上升，软件测试人才缺口巨大。 二、软件测试人员稀缺 不过，在被调查者所在公司中，测试人员与开发人员的比例在1：4及以上的高达55.13%。在这些公司中，49.66%的公司每年对测试人员实行的培训次数为0。也就是说，将近一半的软件测试人员在工作后没有实行培训学习的机会，这就要求想从事软件测试的人员在入职前培训相关的技能，确保工作能够顺利展开。 三、软件测试行业前景光明 在被调查者中，实行了一年左右软件测试工作的人员占据了72.26%。其中，大专学历及本科学历的比例分别为34.93%和58.22%，他们的薪

资在6000元及以上的占据了53.43%，软件测试工程师薪酬高成为不争的事实。 四、软件测试人员多为培训后入职 因为当前我国高校开设软件测试专业的学校并不多，绝大部分软件测 试人是在转行后或者毕业就参加培训进入的软件测试行业。调查显示，被调查者中通过培训方式转行的占据了58.22%，在这其中，48.68% 的测试人员在北京测试空间实行的软件测试培训,也就是说当前软件测试 从业人员中，每10个测试工程师就有5个来自北京测试空间;学习软 件测试还是要选品牌美誉度和行业口碑好的培训机构,大品牌值得信赖。 测试报告样本（二） 1概述 编辑 测试目的简述本次测试的目的，如：验证某模块是否符合设计 项目背景简述测试所在项目的背景，如：XXX（项目）当前进入什么 阶段，以及其他信息 2测试环境 编辑 硬件环境仅针对测试对象的硬件环境及其版本信息加以说明 软件环境仅针对测试对象的软件环境及其版本信息加以说明 3测试人员 编辑 人员 角色

化学品物料xrf测试规范

化学品物料XRF测试规范 （QC080000-2012） 1.目的 1.1规范化学品来料的检测，以确保所购化学品原材料及用原材料生产的物料通过测试，得到的数值符合客户对产品的环保要求，确保客户收到美好健康的产品。 2.测量范围 2.1宜家客户产品所用的化学品原材料。 2.2宜家产品在生产过程中的配料、配件、成枝。 2.3非宜家客户对产品有环保要求，须做测试的原材料。 2.4可测试物料范围： 2.4.1塑胶PE类(包括PET、PU、EVA、PVC、) 2.4.2色粉类（包括植毛粉） 2.4.3涂料类（包括油漆、水性涂料、胶浆、稀释剂、助剂） 2.4.4金属类（包括有包胶或有表面涂层的金属） 3.测量设备工具及功能 3.1XRF测试仪(测试XRF九项：Pb铅As砷Cr铬Br溴Cd镉Hg汞Cl氯Sb锑Sn锡) 3.2XRF标准汞样品（机器初始化），

3.3塑胶标准样品（测试数据校准） 3.4电脑（启动软件进行测试操作，贮存数据及报告） 3.5打印机(打印报告用) 4.测试环境 4.1所有待测试样品都应放置于实验室内相对湿度：50%±3%，温度：23℃±2℃条件下进行。 4.2确保测试期间使机器处于环境条件同样在50%±3%，温度：23℃±2℃范围。 5.测试取样 5.1从总仓原材料来料中取样。 5.2从生产过程中随机抽取配料、配件、成枝样品。 5.3其它特别要求测试物料。 6.测试样品要求 6.1样品体积要求：不超过450mmx280mmx100mm. 6.2样品重量要求：不少于20g 6.3对样品的标识要求： 注明：抽样日期/客人名称/所用到的产品名称/物料名称/订单号/批次号/供应商/使用部门.以便通知及追溯。 6.4对固体物料及液体物料样品测试要求： 6.4.1对固体的物料样品无形态要求

试验检测报告样品描述

试验检测样品描述 一、公路工程材料 （一）土：无色、无臭味、无杂质。 （二）集料 1、粗集料：颗粒无污染、无杂质 2、细集料：洁净、无杂质 3、矿粉：干燥、洁净、无团粒结块 （三）石料：有（无）显著层理，有（无）裂纹，尺寸规则（不规则）。（四）水泥：散（袋）装，未受潮、无结块。 （五）水泥混凝土、砂浆 1、水泥混凝土拌合物：拌和均匀，无离析。 2、砂浆拌合物：拌和均匀，有（无）泌水。 3、硬化后水泥混凝土、砂浆：表面平整、无蜂窝麻面、无缺损（六）水、外加剂 1、水：水样透明、无杂质。 2、外加剂：液态，无沉淀物；固态，未受潮、无结块。 （七）无机结合料稳定材料 1、石灰：消解完全。 2、粉煤灰：灰白（黑）色，无杂质。 3、无机结合料混合料：拌和均匀，粗细集料无离析。

（八）沥青：固（液）态，黑色。 （九）沥青混合料：试样均匀，无离析、无花白料。 （十）钢筋 1、原材：有（无）锈蚀，有（无）肉眼可见缺陷。 2、焊接接头：母材有（无）锈蚀，有（无）明显的灼伤缺陷。 3、机械连接接头：母材有（无）锈蚀，套筒无肉眼可见裂纹。 二、公路工程现场检测 （一）厚度 1、水泥混凝土芯样：芯样完整，有（无）裂缝、有（无）接缝、有（无）分层。 2、沥青混凝土芯样：芯样完整。 （二）构造深度：路面干燥、清洁、无污染。 （三）摩擦系数：路面干燥、清洁、无污染。 （四）渗水系数：路面干燥、清洁、无污染。 （五）地基承载力：基底表面平整、无松土，土质为**土。 （六）回弹测强：表面光洁、干净、干燥。 （七）锚杆拉拔试验：表面清洁、干燥、平整。 （八）道路交通标线施工质量试验检测：X色XX型路面标线。（九）交通标志：标志面平整完好，表面无起皱、无开裂、无缺损。

XRF测试

XRF测试若干问题： XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。目前市场上使用较多的是EDXRF。无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是否存在某种元素，所以具有方便、快捷、不破坏样品、省时省事的优点，非常适用于大批量原材料的验货分析。但它存在下述问题： 第一，XRF只能进行元素分析，而不能进行价态分析。即它的分析结果包括所有价态的元素总量。例如Cr的分析，它分辨不出材料中Cr是以金属Cr、三价铬还是六价铬的形式存在，只能给出总铬的含量。 第二，XRF受基体干扰非常严重。即材料的组成成分对结果影响很大。一般来说对单纯的材料，如PP、PE、PS、高纯度的金属等，XRF测试结果的误差范围为±30％甚至更低；对复合材料，如PC+ABS、PS+PE、各种合金（含量大于1％的元素超过2种），XRF测试结果的误差范围为40～50％，材料越复杂误差越大。所以合金的测试结果误差一般要比复合塑胶的测试结果大。下面以RoHS测试为例，对台式EDXRF测试结果X进行如下解释： 元素单纯的塑胶材料单纯的金属材料复合材料 Cr X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求 X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析 Br X＜300ppm，可视为满足要求—— X＜250ppm，可视为满足要求 X＞300ppm无法判断是否满足要求—— X＞250ppm无法判断是否满足要求 Pb X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求 1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析 X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求 Hg X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求 1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析 X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求 Cd X＜70ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜70ppm，可视为满足要求 1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析 X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满

EDXXRF检测有害物质规范最全版

1 目的 本要求规范了工厂的XRF分析人员、测试样品、XRF设备（含软体）、及XRF测试操作等方面的要求，以提高工厂XRF分析结果的准确性及可靠性，确保工厂及供应商交货之HSF产品符合客户要求。 2 范围 本公司产品自设计、零部件采购、生产、成品出货及供货商提供给本公司之零部件，及本公司委托外包厂商制造之产品、零部件皆函盖之。 3 参考资料 电子电器产品中有害物质检测样品拆分通用要求GB/Z 20288-2006 客户规范 4 定义 4.1 XRF：X射线荧光分析仪。 4.2 HSF：无有害物质。 4.3 均质材料：指不能通过机械手段进一步拆分为不同材质的材料，均质材料各部分的组成均相同，例如各 种陶瓷、玻璃、合金、纸张、木板、树脂、塑胶及涂料等。 5 作业程序与权责 5.1 人员要求 设备使用人员需定期进定义教育训练，所有与XRF检测分析人员应按照教育训练计划进行适当的内部或 第三方培训及必要的考核。考核合格人员需取得合格证书。 5.1.1 人员资格 检验操作人员需具备高中或同等学历（含）以上学历，或有累计2年以上类似检测设备操作经验， 且经培训合格并取得合格证书。实验室主管需具备大专（含）以上学历，且已累积3年以上检测设 备操作经验或2年以上实验室管理经验。休假超过两个月的人员，需经重新培训后才能上岗作业。 5.1.2 人员培训 5.1.2.1 XRF相关人员培训方式可为内训、仪器公司或第三方实验室培训，培训时间不得少于6小 时。 5.1.2.2 培训讲师应具备大专以上学历，或有3年以上类似检测设备操作经验，或实验室主管（或 其指定人员）、教材的拟定人员。 5.1.2.3 培训内容应包含XRF设备（含软体）的操作，样品的制备，仪器、标准曲线的校正，数 据、谱图识别，检测结果判定等。 5.1.2.4 参加培训人员应参与理论及实际操作等方面的考核，且考核合格并颁发合格证书后方可 参与XRF检测作业。 5.1.2.5 与XRF作业有关的培训、考核相关的记录至少完好保存5年。 5.1.3 安全防护 XRF检测作业人员需做相应的安全防护，使其免遭辐射危害。如进行辐射监护、定期体检等。 5.2 XRF检测样品要求 测试样品应以覆盖检测区域不留空隙为宜。允许测定面稍有凸起，但若有深凹部或试料中含有金属杂质时，应尽可能加工样品，将空间或凹陷尽量除去，将金属杂质挑出。 为减少分析误差，检测样品在制备、储运、检测等过程中应防止被不当接触及外来异物污染。 5.2.1 均质样品

样品、检测报告编号规则

Xxxxxxxx 检测样品、检测报告编号规则 1、目得 为我xxxxx得检测样品、检测记录、报告与自编技术文件,确保上述标识得唯一性与必要时得可追溯性,制订本规则。 2、职责与要求 2、1我xxxxx得每台设备仪器、每一件检测样品,检测过程中形成得每一份记录,发出得每一份检测报告与自行编制得技术文件,都必须有唯一得编号作为其标识。 2、2样品、报告与自编技术文件得编号由接样室实施,记录得编号由检测员实施,检测样品编号与委托编号相同。 3、编号规则 我xxxxx编号,均由一组有特定含义得字母与数字组成,编号规则依据《房屋建筑与市政基础设施工程检测分类标准》(JGJ/T1812009)编制,现分述如下: 委托编号(见表二)为工程材料检测代码(见表一)、年月与序号组合而成,例:Q101其中“Q0302”为工程材料检测代码;“Q”代表工程材料;“03”代表混凝土结构材料;“02”代表水泥;“2016”代表2016年;“01”代表1月份;“01”代表01日,“01”序号代表第一份委托。 报告编号(见表二)为单位字母简称、工程材料检测代码、年月与序号组合而成,例:XXXXXQ101其中“XXXXX”代表“十四冶建材科研xxxxx”单位字母简称;“Q0302”为工程材料检测代码;“Q”代表工程材料;“03”代表混凝土结构材料;“02”代表水泥;“2016”代表2016年;“01”代表1月份;“01”代表1日;“01”序号代表第一份报告。 检测二室与检测三室得委托编号与中心实验室一样,报告编号检测二

室:XXXXX2Q101;检测三室报告编号: 3Q101、 表二中编号为2016年检(试)验委托编号及报告编号得起始编号,以表二中得编号作为2016年检(试)验委托及报告编号得第一个编号并依次进行累加。 表一:工程材料检测代码 第1页共5页

XRF检测原理

XRF检测原理·1 2009-11-16 12:29 原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（钠Na）到92号元素（铀U）。 全反射X-光荧光分析仪(Total-reflection X-ray Fluorescence Spectrometer, TXRF ) 传统X-光荧光分析仪(X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射试片以激发试片中的元素，当原子自激发态回到基态时，侦测所释放出来的荧光，经由分光仪分析其能量与强度后，可提供试片中组成元素的种类与含量，具有快速、非接触、非破坏性及多元素分析等特点；然而X-光荧光分析仪分析的灵敏度受到试片基质散射效应及入射X-光与试片基座反应产生的制动幅射的限制，尔后逐渐发展出全反射X-光荧光分析仪，才大幅提高X-光荧光分析仪的灵敏度。 XRF是一项非破坏性的元素定性和定量分析的技术，其原理是根据被入射X 光提升到激发态的样品，在回复到基态时，所放射的X光荧光，具有因元素种类和含量不同而有不同的波长X光射线的特性。当X光照射样品时，有两种主要的现象发生，即：散射现象（Scattering）和光电吸收（Photoelectric Absorption）。前者为当入射X光弹性碰撞到晶体样品中的原子时，入射X光的波长λ，和晶格平面间距d，绕射程度n，以及绕射角度θ，有下列的关系： nλ＝2dsinθ（1） （1）式即为布拉格定律（Bragg's Law）。散射现象为X光绕射分析技术（X-Ray Diffraction Analysis）的依据，不在本文讨论的范围之内。然而，这种利用含有适当晶格间距的单晶，可以将多色的X光束分离为许多不同的单色光束（Monochromatic Beam），进一步可以决定其波长和强度，此为利用"光电吸收"的波长发散X光荧光分析仪（Wavelength-Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometry，简称WDXRF）仪器构造的依据，如图4-3所示。

xrf测试仪

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，莱雷科技仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素（F）到92号元素（U）。 X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出的电子会导致该电子壳层出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的 X射线荧光（XRF）。 波长 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z? s) ?2 式中K和S是常数。 能量 而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为： E=hν=h C/λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。 分类 不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的

RoHS的XRF测试若干问题

RoHS的XRF测试若干问题 视力保护色:[ ] 字体:[小中大] [打印] [关闭] XRF测试若干问题： XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。目前市场上使用较多的是EDXRF。无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是否存在某种元素，所以具有方便、快捷、不破坏样品、省时省事的优点，非常适用于大批量原材料的验货分析。但它存在下述问题： 第一，XRF只能进行元素分析，而不能进行价态分析。即它的分析结果包括所有价态的元素总量。例如Cr的分析，它分辨不出材料中Cr是以金属Cr、三价铬还是六价铬的形式存在，只能给出总铬的含量。 第二，XRF受基体干扰非常严重。即材料的组成成分对结果影响很大。一般来说对单纯的材料，如PP、PE、PS、高纯度的金属等，XRF测试结果的误差范围为±30％甚至更低；对复合材料，如PC+ABS、PS+PE、各种合金（含量大于1％的元素超过2种），XRF测试结果的误差范围为 40～50％，材料越复杂误差越大。所以合金的测试结果误差一般要比复合塑胶的测试结果大。下面以RoHS测试为例，对台式EDXRF测试结果X进行如下解释： 元素单纯的塑胶材料单纯的金属材料复合材料 Cr X＜700ppm，可视为满足要求 X＜700ppm，可视为满足要求 X＜500ppm，可视为满足要求X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析 X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析 X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析

试验检测样品、记录、报告编号规则

****高速公路项目工地试验室 试验检测样品、记录、报告等的编号规定 一、编号规则 （一）施工单位按“样品/记录/报告的首字母（大写）—日期（年月）—样品标识—流水号”四区段的格式进行编号。 （二）监理办及中心试验室按“样品/记录/报告的首字母（大写）—所辖合同段编号—日期（年月）—样品标识—流水号”五区段的格式进行编号。 说明： 1、样品/记录/报告的首字母（大写）：即样品用“YP”表示，记录用“JL”表示，报告用“BG”表示,流水号按各个标段单独进行流水号连接。施工单位无合同段编号。 2、所辖合同段编号：按下表规定选择。 单位名称所辖合同段所辖合同段编号 S1中心试验室一监理办 ****A1标01 ****A2标02 ****A3标03 二监理办 ****A4标04 ****A5标05 ****A6标06 三监理办 ****A7标07 ****A8标08 ****A9标09 3、日期（年月）：年份采用4位数表示、月份采用2位数表示，如2017年2月份进行的试验，应写为“201702”。 4、样品标识：按身份识别编号规则，具体参照下表选择对应的样品标识。

样品（对象）标识身份识别编号规则示例 序号样品类型样品（对象）标 识 备注 1 土TGJ “土工”+“检”首字母 2 粗集料CJL “粗集料”首字母 3 细集料XJL “细集料”首字母 4 矿粉KFJ “矿粉”+“检”首字母 5 岩石YSJ “岩石”+“检”首字母 6 水泥SNJ “水泥”+“检”首字母 报告、记录、样品编号统一，区别在报告日期 7 钢筋原材GJJ “钢筋”+“检”首字母 8 焊接钢筋GJHJ “钢筋焊接”首字母 9 钢筋机械连接GJJL “钢筋机连”首字母 10 水泥混凝土拌和物TBH “混凝土”+“拌和”首字母 11 硬化后水泥混凝土TYH “混凝土”+“硬化”首字母 报告、记录、样品编号统一，区别在报 告日期 12 水泥砂浆拌和物SBH “砂”+“拌和”首字母 13 硬化后水泥砂浆SYH “砂”+“硬化”首字母 14 水SYJ “水样”+“检”首字母 15 外加剂WJJ “外加剂”首字母 16 石灰SHJ “石灰”+“检”首字母 17 粉煤灰FMH “粉煤灰”首字母 18 无机结合料无侧限抗 压强度WJL（D/J）-QD “无机料”（底基层/基层）+“强度”首 字母 19 无机结合料筛分WJL（D/J）-SF “无机料”（底基层/基层）+“筛分”首 字母 20 无机结合料含水率WJL（D/J）-HS “无机料”（底基层/基层）+“含水”首 字母 21 无机结合料水泥/石灰 剂量WJL（D/J）-JL “无机料”（底基层/基层）+“剂量”首 字母 22 沥青LQJ “沥青”+“检”首字母 23 沥青混合料LQL（S/Z/X/FC）“沥青料”（上层/中层/下层/稀浆封层） 24 土工合成材料TFJ “土”+“合成”首字母+“检”首字母 25 压实度XCJ-YSD “现场检”+ “压实度”首字母 26 弯沉XCJ-WC “现场检”+ “弯沉”首字母

XRF测试设备简介

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XRF测试作业指引

1.目的 1.1规范化学品来料的检测，以确保所购化学品原材料及用原材料生产的物料通过测试，得到的数 值符合客户对产品的环保要求，确保客户收到美好健康的产品。 2.测量范围 2.1宜家客户产品所用的化学品原材料。 2.2 宜家产品在生产过程中的配料、配件、成枝。 2.3非宜家客户对产品有环保要求，须做测试的原材料。 2.4 可测试物料范围： 2.4.1塑胶PE类(包括PET、PU、EV A、PVC、) 2.4.2色粉类（包括植毛粉） 2.4.3涂料类（包括油漆、水性涂料、胶浆、稀释剂、助剂） 2.4.4金属类（包括有包胶或有表面涂层的金属） 3.测量设备工具及功能 3.1 XRF测试仪(测试XRF九项：Pb铅As砷Cr 铬Br 溴Cd镉Hg汞Cl氯Sb锑Sn锡) 3.2 XRF标准汞样品（机器初始化）， 3.3塑胶标准样品（测试数据校准） 3.4 电脑（启动软件进行测试操作，贮存数据及报告） 3.5 打印机(打印报告用) 4.测试环境 4.1所有待测试样品都应放置于实验室内相对湿度：50%±3%，温度：23℃±2℃条件下进行。 4.2确保测试期间使机器处于环境条件同样在50%±3%，温度：23℃±2℃范围。 5.测试取样 5.1 从总仓原材料来料中取样。 5.2 从生产过程中随机抽取配料、配件、成枝样品。 5.3 其它特别要求测试物料。 6.测试样品要求 6.1 样品体积要求：不超过450mm x 280mm x 100mm. 6.2 样品重量要求：不少于 20g 6.3 对样品的标识要求： 注明：抽样日期/客人名称/所用到的产品名称/物料名称/订单号/批次号/供应商/使用部门.以便通知及追溯。 6.4 对固体物料及液体物料样品测试要求： 6.4.1对固体的物料样品无形态要求 6.4.2对液体的物料样品需涂抹在测试板上（白布、玻璃、金属介质）烘烤干后再做测试。 7.测试操作流程 7.1.打开电脑，启动XRF测试仪，按XRF测试仪《测试流程图》检查仪器待机状态是否正常. 7.2点击电脑桌面上“ROHS”软件图标，进入测试操作界面。

XRF测试运作规程

1、目的 1.1使本公司生产的所有光电产品能够满足市场上对环境品质的要求，防止环境污染事故的发生。 2、适用范围 适用于本公司所有光电产品。 3、职责 品管课检验员负责样机的选择和测试，并记录测试结果 4、程序 4.1 温湿度要求：常温常湿 4.2安全事项 4.2.1正确使用 a. 绝对不可用Protable XRF分析仪器对准他人。 b. 绝对不可用Protable XRF分析仪器对空地进行TEST。 c.绝对不可将样品放置在手中进行TEST。 4.2.2设置管理区域 a.为了防止放射线(IONIZING RADIATION)的漏出在限定区域内保管并使用。 b.除了Portable XRF 分析仪器后面,其他三面均不可有人. 4.2.3 分析仪器管理 a.当不使用Portable XRF分析仪器时需要锁在CASE 或CABINET 进行保管. b.Portable XRF 分析仪器只有经过培训的人员方可使用. 4.2.4 TIME,DISTANCE,SHIELDING对策 a. 操作者尽可能减少与Portable XRF 分析仪器运行状态下的接触时间保持与Portable XRF 分析仪器WINDOW之间的距离最大化进行测试. b. 任何情况下均不可对着本人或他人使用Portable XRF分析仪. 4.3 XRF测试与判定标准 4.3.1 XRF测试标准

4.3.2 XRF 判定标准(※ 测定值显示为 “-”时视为“0” ) ■ PCB ■ FFC → After thicken folding test ■ MOTOR ■ PICK-UP ■ TRAY DISC ■ MAIN BASE ■ 产品外观 → 塑胶材质,印刷部分. ■ 包装材料 → BASE 材质,印刷部分 ■ ACCESSORY → 材质, 印刷部分 分析对象 Desk Top XRF Portable XRF 2PCS/MODE L 2 MODEL/WEEK 分解检查 ■ PORTABLE XRF 设备使 用 TESTING STAND ■ 测试需要每周进行并 将结果通报至HQ OQC ■ 发生Reject 时及时报告至品管主管同时采 取停止出货措施 Portable XRF 1PCS/MODE L 全部 MODEL/DAY OBA (LOT INSPECTION) Remark 分析设备 Qty 周期 Category Spec 961 ~ 961 ~ 97 ~ 961 ~ Reject (+20%超过) ~ 639 ~ 639 ~ 63 ~ 639 Accept (-20%未满) 640 ~ 960 640 ~ 960 64 ~ 96 640 ~ 960 Re-analysis (-20% ~ +20%) 640 ~ 960 640 ~ 960 40 ~ 60 160 ~ 240 Re-analysis (-20% ~ +20%) 961 ~ 961 ~ 61 ~ 241 ~ Reject (+20% 超过) Unconditional ly Pass ~ 639 ~ 639 ~ 39 ~ 159 Accept (-20% 未满) Max 800 Max 200 Pb Max 800 Max 800 - Max 80 Spec ALLOY Max 800 Max 800 Max 800 Max 50 Spec HIGH MOLECULE [PLASTIC] Br Cr Hg Cd Category ■ Spec -20% 未满 : Accept 判定 ■ Spec +20% 超过 : Reject 判定 ? CR(总量) 超过时,进行 SPOT-TEST 后判定(镀金材质的情况) ■ Spec -20% ~ +20% : DESK TOP XRF 利用 Re-analysis ? Spec -20% 未满时 Accept 判定 ? Spec -20% ~ +20%时采取停止出货后委托精密分析机关进行分析 → 分析结果为 Spec 以下时 Accept

软件测试报告模板样本

XX系统测试报告 版本变更记录 表格0-1版本变更记录 项目基本信息 表格0-2项目基本信息 目录

1引言.................................. 错误!未定义书签。 1.1编写目的 ......................... 错误!未定义书签。 1.2项目背景 ......................... 错误!未定义书签。 1.3参考资料 ......................... 错误!未定义书签。 1.4术语和缩略语...................... 错误!未定义书签。2测试概要.............................. 错误!未定义书签。 2.1测试用例设计...................... 错误!未定义书签。 2.2测试环境与配置.................... 错误!未定义书签。 2.3测试方法与工具.................... 错误!未定义书签。3测试内容和执行情况.................... 错误!未定义书签。 3.1项目测试概况表.................... 错误!未定义书签。 3.2功能 ............................. 错误!未定义书签。 3.3安全性测试 ....................... 错误!未定义书签。 3.4易用性测试 ....................... 错误!未定义书签。 3.5覆盖分析 ......................... 错误!未定义书签。4缺陷统计与分析........................ 错误!未定义书签。 4.1缺陷汇总 ......................... 错误!未定义书签。 4.2缺陷分析 ......................... 错误!未定义书签。 4.3残留缺陷与未解决问题.............. 错误!未定义书签。5测试结论与建议........................ 错误!未定义书签。 5.1测试结论 ......................... 错误!未定义书签。 5.2建议 ............................. 错误!未定义书签。

XRF分析仪测试常见知识

XRF测试常识 a) X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。两个关于XR光谱仪的实际例子是波长散射型(WDXRF)荧光光谱和能量散射型(EDXRF)荧光光谱仪。 b) X-射线激发源：通常是X-射线管或放射性同位素。 c) X-射线探测器：检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。 X-射线荧光光谱仪(XRF)：由X-射线激发源、样品测试台、X-射线检测器、数据处理器和控制系统。 XRF 所用的射线对人体有害，所以所有产生射线的设备应该按照严格的安全程序来操作，另外要做好对试验人员的健康防护。光谱仪准备 按照仪器的工作指南给仪器通电，加热设备，并按照厂家的指导说明使仪器稳定。 确保测试稳定，按厂家的指导使检测器稳定。 校准 e/ja) 根据仪器用户手册的说明，按照7节中的描述去选择参比样品作为校准样品。样品中元素的 T9E5?7M(u%w C.}六西格玛品质论坛浓度必须各不相同。如果校准覆盖了很多元素，浓度范围跨度很大，就需要很多校准样品。 校准样品的数量因以下原因减少： —用基本参数法校准(元素少于标准物) —用基本参数法校准(用一个相似元素的标准物). —用基本参数法分析加上经验来校准 分析方法校准考虑到光谱的干扰、基体效应和其它效应，这些都会影响到光谱中荧光散射强度的确定。这些影响的列表可以在这章的附件中找到。 为了保证对每个测量元素合格的分析性能，必需通过选择合适的激发参数使仪器处于最佳的测量条件。这些条件是仪器特有的。具有代表性地，这些信息可以分析者的指导手册中找作为一般的指导，建议方法的使用者知道相互元素光谱的干扰和样品间的基体的变化会充分影响到每个分析物结果的准确度、精密度和最小检测限。例如，在纯的聚乙烯中Cd的检

金属样品XRF测试流程

金属样品测试流程一、启动仪器（如果仪器已启动 则转步骤二）： 1.确认仪器供电电源是否正常？ 2.按下仪器前面板红色电源开 关，开关内红色状态灯亮，仪器进 行自检。 3.启动电脑系统。 4.双击桌面Elvax 图标，进入软件操作介面。 二、放入测试样品： 5.打开上盖。 6.将测试样品放置在检测窗口上，可透过软件上的影像窗口来确认样品的精确放置位置。 7.关下上盖。电源开关 检测窗口 样品图像

三、检测： 8.选择测试条件（如果此处为灰色无法选择，请点击新建按钮）， 金属为Metals 202（202为仪器编号，不同仪器此编号不一样）。9.点击START按钮，仪器开始进行样品检测。 10.当看到如右图“测试完成信息”时，点击“确定”完成检测。 11.保存能谱。 START，按 下后变为 STOP。 自动电流侦测，OK后开始检测。 测试完成 保存能谱 新建 测试条件

四：1、计算测试结果：(自动分析) 12.点击Analyze Automatically 计算出结果。 13.点击Templates…按钮可以 选择导出报告的模板格式。 14.点击Save report按钮导出最 终测试报告。 1．选择报告模板 2．导出分析报告 自动分析

四：2、计算测试结果：(手动分析) 15.点击PT按钮，弹出元素周期表，选择此样品所含元素，后退出。 16.点击Analyze using selection 计算出结果。 17.点击Templates…按钮可以选择导出报告的模板格式。 18．点击Save report按钮导出最终测试报告。 *手动与自动分析差异： 1).自动分析由软件自动分析能谱,计算结果,分析速度快.缺点:无法排除能谱干扰及含量过低漏检问题. 2). 手动分析由操作人员通过人工分析能谱图得到样品所含元素,再进行计算的方法,结果精度、准确性高。缺点：对人员操作熟练程度及分析能力要求高。 3).通常操作是先用自动分析，再通过人员对结果的分析，排除干扰及漏检元素后，再用手动分析方法得出最终结果。 选择所含元素 1．选择报告模板2．导出分析报告 手动分析

试验检测样品 记录 报告编号规则

****高速公路项目工地试验室试验检测样品、记录、报告等的编号规定 一、编号规则 （一）施工单位按“样品/记录/报告的首字母（大写）—日期（年月）—样品标识—流水号”四区段的格式进行编号。 （二）监理办及中心试验室按“样品/记录/报告的首字母（大写）—所辖合同段编号—日期（年月）—样品标识—流水号”五区段的格式进行编号。 说明： 1、样品/记录/报告的首字母（大写）：即样品用“YP”表示，记录用“JL”表示，报告用“BG”表示,流水号按各个标段单独进行流水号连接。施工单位无合同段编号。 2、所辖合同段编号：按下表规定选择。 单位名称所辖合同段所辖合同段编号 S1中心试验室一监理办 ****A1标01 ****A2标02 ****A3标03 二监理办 ****A4标04 ****A5标05 ****A6标06 ****A7标07

三监理办****A8标08 ****A9标09 3、日期（年月）：年份采用4位数表示、月份采用2位数表示，如2017年2月份进行的试验，应写为“201702”。 4、样品标识：按身份识别编号规则，具体参照下表选择对应的样品标识。 样品（对象）标识身份识别编号规则示例 序号样品类型样品（对象）标 识 备注 1 土TGJ “土工”+“检”首字母 2 粗集料CJL “粗集料”首字母 3 细集料XJL “细集料”首字母 4 矿粉KFJ “矿粉”+“检”首字母 5 岩石YSJ “岩石”+“检”首字母 6 水泥SNJ “水泥”+“检”首字母 报告、记录、样品编号统一，区别在报告日期 7 钢筋原材GJJ “钢筋”+“检”首字母 8 焊接钢筋GJHJ “钢筋焊接”首字母 9 钢筋机械连接GJJL “钢筋机连”首字母 10 水泥混凝土拌和物TBH “混凝土”+“拌和”首字母 11 硬化后水泥混凝土TYH “混凝土”+“硬化”首字母 报告、记录、样品编号统一，区别在报 告日期 12 水泥砂浆拌和物SBH “砂”+“拌和”首字母 13 硬化后水泥砂浆SYH “砂”+“硬化”首字母 14 水SYJ “水样”+“检”首字母 15 外加剂WJJ “外加剂”首字母 16 石灰SHJ “石灰”+“检”首字母 17 粉煤灰FMH “粉煤灰”首字母 18 无机结合料无侧限抗 压强度WJL（D/J）-QD “无机料”（底基层/基层）+“强度” 首字母 19 无机结合料筛分WJL（D/J）-SF “无机料”（底基层/基层）+“筛分” 首字母

xrf是什么_xrf测试

XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容，并做了整体的讲解分析。 1.什么是XRF? XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X 射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量https://www.wendangku.net/doc/b19478256.html,。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光. 利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（Na）到92号元素（U）。 2.X射线荧光的物理原理： X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。 X射线的波长 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X 射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：